TEM tasvirlash va tahlil qilish

Batafsil:

Transmissiya elektron mikroskopiyasi (TEM) materiallar va yarim o'tkazgichlar sohasida ajralmas analitik vositaga aylandi. Bu yorug'lik manbai sifatida yuqori energiyali elektron nurlardan-foydalanadigan va tasvirni yaratish uchun namunadan (taxminan 10-150 nm qalinlikdagi) o'tayotgan elektronlarni (ya'ni, uzatilgan elektronlar) elektromagnit linzalar orqali fokuslaydigan elektron optik asbobdir. Bir nechta TEM texnikasini birlashtirib, namunaning morfologiyasi, kristall tuzilishi va kimyoviy tarkibi haqidagi ma'lumotlarni bir vaqtning o'zida olish mumkin. TEM ruxsati 0,12 nm ga, STEM ruxsati esa 0,16 nm ga yetishi mumkin.

So'rov yuborish

Yuklab oling

Ta'rif

Texnik parametrlar

xizmat mazmuni

TEM (yorqin-maydon tasvirlari, oʻqdan tashqari-oʻqdan tashqari qorongʻi-maydon tasvirlari, markaziy qorongʻu-maydon tasvirlari, yuqori-ravshanlikdagi tasvirlar, zaif{5}}nurli qorongʻu-maydon tasvirlari); STEM (HAADF tasvirlari, DF tasvirlari, BF tasvirlari, EDS energiya spektrlari, iDPC tasvirlari); diffraktsiya (selektiv diffraktsiya, konvergent{7}}nur diffraktsiyasi, nano nurlarning diffraktsiyasi)

xizmat darajasi

Chip{0}}bog'liq tarmoqlar (gofret ishlab chiqaruvchilari, yarimo'tkazgich uskunalari ishlab chiqaruvchilari, chiplarni loyihalash kompaniyalari va boshqalar); Materiallar bilan bog'liq{2}}sektorlar (universitetlar, ilmiy-tadqiqot institutlari va moddiy AR-GE korxonalari).

Sinov tsikli

Odatda ishlov berish vaqti: 5-7 ish kuni.

Xizmat foni

Xorijda texnologik blokadalar kuchayganligi sababli, mahalliy yuqori texnologiyali korxonalar mustaqil chiplar ilmiy-tadqiqot imkoniyatlariga ko'proq e'tibor qaratmoqda, bu esa yarimo'tkazgich uskunalari uchun mahalliy ishlab chiqarishning jadal rivojlanishiga turtki bo'ldi. Chip ishlab chiqarish jarayonlari qisqarishda davom etar ekan, chiplar va yarimo'tkazgich uskunalarini ishlab chiqish TEM kabi mikroskopik analitik vositalarga tobora ko'proq tayanmoqda. Transmissiya elektron mikroskopiyasi (TEM) materialni tadqiq qilish va rivojlantirishda ajralmas rol o'ynaydi. U materialning xossalari va xatti-harakatlarini tahlil qilishda yordam beradigan-kristal tuzilmalar, nuqsonlar, elementar kompozitsiyalar va konsentratsiyalar- kabi muhim mikroskopik strukturaviy ma'lumotlarni taqdim etadi. Texnika ham

Fazali o'tishlar va diffuziya jarayonlari bo'yicha tadqiqotlarni osonlashtiradi, materiallarni loyihalash va optimallashtirish uchun qimmatli tushunchalarni taqdim etadi.

bizning afzalliklarimiz

Guangdian Metrologiyasi TEM tahlilini sinovdan oʻtkazish texnologiyasiga ixtisoslashgan boʻlib,{0}}etakchi mutaxassislar jamoasi va ilgʻor TEM tahlil uskunalari (Talos F200X G2) bilan faxrlanadi. Biz turli mijozlarning ilmiy-tadqiqot ehtiyojlariga moslashtirilgan TEM tahlilini sinovdan o'tkazish uchun moslashtirilgan echimlarni taqdim etamiz. Kompaniyamiz 7 nm gacha va undan past bo'lgan ilg'or jarayonlar uchun FIB-TEM tahlil qilish imkoniyatlariga ega.

ish ulushi

product-348-348

product-526-266

Issiq teglar: tem tasvirlash va tahlil qilish, Xitoy tem tasvir va tahlil xizmati provayderi